高温老化房

    用途：针对于高性能电子产品（如：计算机整机、显示器、终端机、电源供应器、PCBA板、监视器、交换式充电器、太阳能逆变器等）仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备，是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程。该设备广泛也广泛应用于半导体集成电路、5G通讯、医疗器械、食品加工、生物制药等各类领域。

设备型号：HTS-LHF-A。

房体尺寸：

测试区尺：

房体全尺寸：6×5.5×3m（W×D×H）（以实体为准）。

测试范围：

温度范围： RT+10℃～50℃（温度可任意设定）。

升温时间： 20℃～50℃ 30/min以内。

仪表解析精度：0.1℃。

仪表控制精度：

温度精度：±1℃。

温度波动度：

温度波动度：≤±2℃。

温度均匀度：≤±3℃。

二、结构及材质：

配电控制箱美观、大方，位置设置合理，操作方便。

三、送风循环系统（2套），比传统循环方式节约电能约30%。）

采用耐高温高品质风道循环机组，以达强制对流垂直扩散循环。（耐高温达150度）。

风路循环采用左右两侧出风下回风设计，风速、风压皆符合试验标准，且在开关门瞬间温度回稳时间快。

3 优化的通风设计，强力送风循环，避免任何死角，可使房间内温度分布均匀。

4 更节能，符合当前国际及国内环保要求。

5 更静音，欧式循环风路设计造就了超低噪音效果，设备正常运行进噪音≤65分贝，更好的保证良好的办公环境及操作人员的工作环境。

6 极小的管内容积及超小体积，保证房间内明静、大方、漂亮。

7 安装、保养和维修方便。

8 高质量及合理的设计。

9 所有部件具有极高的可靠性。